• 令和元年度 秋期 ITパスポート試験 問47 解説

不良密度によるソフトウェア品質判定


ソフトウェアの品質を判定する指標として,機能単位の不良件数をその開発規模で割った値を“不良密度”と定義する。不良密度の下限値と上限値を設定し,実績値がその範囲を逸脱した場合に問題ありと判定するとき,A工程では問題がなく,B工程で問題があると判定される機能はどれか。ここで,不良密度の下限値は0.25件/KS,上限値は0.65件/KSとする。また,不良密度の下限値,上限値及び開発規模は,両工程とも同じとする。

ソフトウェアの品質を判定する指標として,機能単位の不良件数をその開発規模で割った値を“不良密度”と定義する。不良密度の下限値と上限値を設定し,実績値がその範囲を逸脱した場合に問題ありと判定するとき,A工程では問題がなく,B工程で問題があると判定される機能はどれか。ここで,不良密度の下限値は0.25件/KS,上限値は0.65件/KSとする。また,不良密度の下限値,上限値及び開発規模は,両工程とも同じとする。の画像
令和元年度 秋期 ITパスポート試験 問47
ア: ア
イ: イ
ウ: ウ
正解の選択肢
エ: エ

答えの解説

問題より、不良密度の
・下限値:0.25件/KS
・上限値:0.65件/KS
とあるため、それぞれ
下限値 = 開発規模 × 0.25
上限値 = 開発規模 × 0.65
で...

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